VLSI Korea
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SOURCES / THE EVIDENCE DIRECTORY

원 출처로 가는 길.

편집 출처와 데이터셋 사용 조건을 확인하세요. 가져온 기록의 상세 출처는 각 기록 페이지에 연결되어 있습니다. 외부 문서는 원 출처에서 열립니다.

시각 자료 출처 탐색 →
OPEN DATA / PROVENANCE

출처를 간직하며 넓어지는 아카이브.

20,390 개 기록에는 설계, 제품 모델, 그래픽 보드 변형이 포함됩니다. 데이터셋의 제원은 제3자 기록이며, 모든 값을 독립 측정했다는 뜻은 아닙니다.

BuildCores OpenDB ↗ODC-By-1.0 ↗

Contains information from BuildCores OpenDB, made available here under the Open Data Commons Attribution License (ODC-By) v1.0. Source notices and database license must accompany public use.

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ZyMOS CPU-DB ↗Public domain (database only) ↗

Historical structured facts from ZyMOS CPU-DB, whose COPYING.txt declares the database public domain. Third-party photographs and source-page prose are excluded.

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CMSIS configured-device metadata · Keil / Open-CMSIS-Pack

STM32 디바이스 팩에서 구성 장치명, 상속된 프로세서 설정, 개별 메모리 영역과 패키지 패턴을 가져왔습니다. 이 기록은 서로 다른 촬영 다이나 검증된 구매 주문 코드 수를 뜻하지 않습니다.

Apache-2.0 license

고정한 일곱 개 원본과 사용 조건은 아래 출처에 연결됩니다. 원본 식별자를 유지하고 설명과 정규화는 VLSI Museum에서 작성했습니다.

285 editorial sourcesOriginal titles preserved · Dates listed per source
31
Intel 8086 CPU die

Wikimedia Commons · Pdesousa359 · EN · photography

Published not recorded · Accessed 2026-09-05 · third-party-report
Intel 8086
199
Evolution of GPUs

NVIDIA · EN · conference

Published 2004 · Accessed 2026-09-06 · official-disclosure
219
MOSFETs

Infineon Technologies · · official product catalogue

Published not recorded · Accessed 2026-09-14 · official-disclosure
Power MOSFET
221
Photodiodes

Hamamatsu Photonics · · official product catalogue

Published not recorded · Accessed 2026-09-14 · official-disclosure
Photodiode
235
V93000

Advantest · · official product page

Published not recorded · Accessed 2026-09-14 · official-disclosure
Advantest V93000
261
Home — Chipwise image source

Chipwise / NanoPhysics · · photography

Published not recorded · Accessed 2026-09-09 · third-party-report
Broadcom BCM2712 — package cross-section specimenHuawei Mate 20 — teardown specimenHigh-resolution optical die-region image VHX_000099 — Chipwise specimenDie microscopy and 3D profilometry comparison collage — Chipwise specimenX-ray image of a packaged chip on a board — Chipwise specimenOptical cross-section of a chip package and solder balls — Chipwise specimen