VLSI MUSEUM / ENGINEERING RECORD2023
Huawei / HiSiliconSMIC 7 nm N+2

silicon design

칩의 기록은 여기서 시작합니다.

이 기록의 신뢰할 수 있는 공개 다이 사진은 아직 확인하지 못했습니다. 신원과 확인된 기술 근거는 계속 탐색할 수 있습니다.

SILICON DESIGN / 2023

HiSilicon Kirin 9000S

TechInsights는 Huawei Mate 60 Pro에서 Kirin 9000S를 실물로 식별하고, 제조 공정을 SMIC의 N+2로 판단했습니다.

관련 기술 탐색

Identity & fabrication
Year
Published analysisKurnal Insights

Scope: silicon-die

Source date: 2026-05-05

Analyst catalog release year.

Process
Independent measurementTechInsights

Scope: silicon-die

Foundry
Independent measurementTechInsights

Scope: silicon-die

Packaging, power & physical analysis
Die area
Independent measurementTechInsights

Scope: silicon-die

Published direct laboratory measurement. Another source gives 111.28 mm²; boundary/protocol difference is unresolved.

Reported die width
Published analysisKurnal Insights

Scope: silicon-die

Source date: 2026-05-05

Original analyst catalog value. Public entry gives dimensions but does not document calibration, die boundary convention, specimen provenance or uncertainty.

Reported die height
Published analysisKurnal Insights

Scope: silicon-die

Source date: 2026-05-05

Original analyst catalog value. Public entry gives dimensions but does not document calibration, die boundary convention, specimen provenance or uncertainty.

Reported die area
Published analysisKurnal Insights

Scope: silicon-die

Source date: 2026-05-05

Original analyst catalog value. Public entry gives dimensions but does not document calibration, die boundary convention, specimen provenance or uncertainty.

이 칩의 근거를 더해 주세요.

이 기록의 신뢰할 수 있는 공개 시각 자료는 아직 확인하지 못했습니다. 다이 사진·패키지 이미지·논문·제조사 도해를 제안할 수 있습니다.

기록의 신원과 범위

silicon design · HiSilicon Kirin 9000S