VLSI KoreaMetrology and inspection cover BEOL applications.
Applied Materials · 근거EQUIPMENT
Semiconductor metrology & inspection
반도체 계측은 공정 특성을 측정하고 검사는 결함과 이상을 찾습니다. Applied Materials는 FEOL과 BEOL 전반의 적용을 설명합니다. 현미경 사진에서 치수나 불량 원인을 해석하려면 측정 방법과 시편 맥락이 필요합니다.
SEMinspectionmetrology계측검사
사양
2 SOURCE-LINKED FIELDS| Applications | Manufacturer / primary sourceApplied Materials Scope: concept |
|---|---|
| Purpose | Manufacturer / primary sourceApplied Materials Scope: concept |
THE VISUAL EVIDENCE
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Metrology and inspection
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